体式显微镜用于电子零件\集成电路板\扭头刀具\磁铁和其他三维检查和检查。基于这些差异，需要在差异倍率条件下观察被测物体，如何满足这些差异要求?可以通过各个方面来处理a.光学性能b.可选择视频视察c.机器性能d.被测物体可以通过光源照明凭证进行观察，通过选择差的目镜\物镜处理大倍率、大视场等问题。当只需要大倍率时，可以通过交换大倍数量的镜子和物镜来满足要求，也可以通过交换物镜来减少视镜。
当光学放大倍数不足时，可以使用电子放大倍数进行补偿。同时，我们可以选择视频进行检查，并期望大致存储和保存。有许多视频方法：A.可直接通过监管器B.能够通过数字(通过计算机(CCD或效仿CCD图像搜罗卡)C它可以与数码相机相邻此外，数码相秘密考虑差异接口和与显微镜相匹配)
当遇到一些焊接、装配、大型集成电路板检查范围和对事物间隔的要求时，我们可以通过万向支架、转臂支架、大型移动平台等机器性能进行处理。借助他们的性能特点，我们的测试可以通过直接通过支架安静平台完成。没有必要移动我们的被测对象。ABB由于被检查的电路板相对较大，需要进行小的倾斜检查，电路板很难移动，只能依靠机器移动来完成检查。通用支架的功能可以同时满足这些使用要求。
光源照明在是否能看到被测物体方面起着至关重要的作用。当然，在选择照明时，有必要证明被测物体本身的特征(考虑到它对光的需求，强大\弱\反光等)选择相应的照明物品和照明方法。
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