ZZJ-D210M系列倒置金相显微镜
一、仪器概述：
ZZJ-D210M系列倒置金相显微镜，操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。
二、技术规格：
光学系统 | 无限远色差校正光学系统45mm |
观察筒 | 45°倾斜，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围:50-75mm，单边视度调节：±5度，两档分光比R：T=100:0或0：100 |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜PL10X/23mm，可带测微尺 |
物镜 | 明场金相物镜（5X//NA0.15、10X/NA0.3、20X/NA0.4、50X/NA0.75 标准配置）、100X/NA0.8（选配件） |
物镜转换器 | 内定位五孔转换器 |
机架 | 带偏光装置插槽，带光强记忆功能 |
调焦机构 | 低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程9mm，焦面向上6.5mm向下2.5mm，微调精度：0.002mm，带有防止下滑的松紧调节手轮 |
载物台 | 双层机械移动平台，面积215mmX165mm，低手位X、Y方向同轴调节，移动行程：45mm×35mm |
落射照明系统 | 落射式柯拉照明系统，带可变孔径光栏和中心可调视场光栏，自适应宽电压100V-240V，10W暖色LED灯，光强连续可调 |
摄影摄像 | 0.5X (标配）， C型接口可调焦 |
其他选配件 | 2K/4K高清相机、USB3.0接口高清相机等（500万、630万、1200万、2000万等） |
高精度测微尺，格值0.01mm | |
软件（专业拍照测量软件、金相分析软件、颗粒分析软件、孔隙率分析软件等） |
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