几百年来，我们一直在用显微镜观察外部经济，探索世界上看不见的东西。与19世纪的光学显微镜相比，我们现在使用的一般显微镜具有更多的功能、更高的自动化技术水平和更高的倍数。显微镜长期以来一直达到屏幕分辨率的极限。对于应用可见光作为光源的光学显微镜，其屏幕分辨率仅半光波长，其屏幕分辨率极限为0.2^，一切低于0.2pLm结构无法识别，使人们的探索受到限制。因此，提高光学显微镜屏幕分辨率的方法之一是尽量减少可见光波长。
进入20世纪，光电技术获得了长期的发展趋势，选择离子束替代只是一个好主意。根据德布罗意的物质波基础理论，移动电子器件不确定，速度越快“光波长”越来越少。如果电子设备的速度可以提高到足够的速度并收集它，它可能被用来增加项目。当电子设备的速度大大提高时，透射电子显微镜的屏幕分辨率可以达到纳米(10-8m)，在透射电镜下，许多在可见光下看不见的物体呈现出原始形状。因此，透射电镜是20世纪*关键发明创造之一凶猛。
法国技术工程师1947年MaxKnoU和ErnstRuska在全世界生产*台式透射透射电子显微镜是一种利用塑料薄膜样品的离子束进行显像或微区分析的电子显微镜。的电子显微镜。的部分信息内容，是分析分子结构、结晶不一致和微区域组成的综合技术。
1952年，美国技术工程师制造*台式扫描仪透射电镜(SEM)O扫描仪电子显微离子束采用光纤传感器的方法对样品表面进行照射，通过分析射电电子器件与样品表面化合物相互影响引起的各种信息，对样品表面微区的外观、成分和晶体学特征进行科学研究。
1983年IBM公司苏黎世实验室的两位生物学家发明并创造了扫描仪隧道施工光学显微镜。这种光学显微镜比透射电子显微镜更先进。它完全失去了传统光学显微镜的概念。隧道施工扫描仪显微镜是利用量子技术对隧道效应的表面科学研究技术。可以立即观察测试产品，起点*表面局域网结构信息可以实现高像素的弹性散射⑴。它没有相机镜头，应用探头，在探头和物体之间加工电压。如果探头间距接近物体表面，大约在纳米间距，隧道效应*它将起作用。电子设备将穿过物体和探头之间的间隙，产生非常弱的电流。如果探头与物体之间的距离发生变化，电流将相对变化。这样，根据准确测量电流*可以理解物体表面的外观，屏幕分辨率可以达到独立分子的水平。透射电子显微镜的屏幕分辨率已达到0.l~0.3nm,即与金属材料点阵式中分子间隔非常。
几十年来，随着新型透射电镜的出现，透射透射电镜应运而生(TEM)，扫描仪透射电镜(SEM)，原子力光学显微镜(AFM)，扫描仪隧道施工光学显微镜(STM)，正离子光学显微镜(FTM)，扫描仪激光声音显微镜(SPAM)等透射电镜大家族。EBSD，在探头、激光探头、俄罗斯能量光谱仪等表面分析技术的相互配合下，金相检测技术的发展趋势达到了一个新的阶段。电子设备金相分析技术可以对金属复合材料的断裂外观、组织结构及其微观成分进行综合分析和测量，然后对金属复合材料和商工件的质量管理，失败表明新材料和加工技术的发展充分发挥着非常关键的作用。
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